镀层 / 厚度测量

手持式 XRF 镀层测厚仪

面向电子、五金与表面处理行业,森沙手持式 XRF 提供镀金、镀银、镀镍、铜镀银等单层与多层镀层的无损厚度与成分测量,现场即可完成质量控制与节材核验。

为什么用 XRF 做镀层测厚

无损测厚,兼顾质量与贵金属节材

镀层过薄影响耐蚀与寿命,过厚则浪费贵金属成本。手持式 XRF 通过特征荧光强度无损测定各层厚度与成分,帮助产线在不破坏工件的前提下稳定质量、精确控制镀金/镀银等贵金属用量。

  • 无损测量,工件不报废
  • 支持单层与多层镀层同时分析
  • 基于 FP 法,可无标样测量
  • 精确控制贵金属用量,降低成本
手持式 XRF 镀层测厚涂镀层厚度无损检测
典型场景

镀层测厚核心场景

电子连接器

镀金/镀镍厚度控制,保障接触可靠性。

五金紧固件

镀锌/镀镍层核验,满足耐蚀要求。

首饰表面

镀金/镀银层厚度与成分一致性检验。

工业镀层

铜镀银等典型工艺的过程质量监控。

推荐配置

镀层测厚推荐技术规格

探测器硅漂移探测器(SDD),高分辨稳定测厚
算法基本参数法(FP),支持多层镀层模型
典型镀层Au、Ag、Ni、Cr、Zn、Sn 及铜镀银等
准直/视场可选小光斑,适配微小镀层区域
方法扩展支持客户标样建立专属系数模型
常见问题

镀层测厚常见问题

手持式 XRF 能测哪些镀层?

可无损测量镀金、镀银、镀镍、镀铬、镀锌、镀锡及铜镀银等单层与多层镀层的厚度与成分,广泛用于电子、五金、连接器与紧固件行业。

可以测多层镀层吗?

可以。基于基本参数法(FP)与多层模型,可同时给出多层镀层各层的厚度与成分,且无需破坏样品。

镀层测厚需要标样吗?

FP 法可在无标样情况下测量;若对特定工艺追求更高精度,可结合客户标样建立专属系数模型进一步提升一致性。

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